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隨著光伏陣列的老化,系統(tǒng)性能可能因眾多潛在原因而下降。有些原因是可以預(yù)見的,比如污染損耗和陣列的長期退化。還有一些則可能是意外情況,比如旁路二極管故障或模塊破裂等。由于 I-V 曲線繪圖儀能夠記錄光伏源的所有電流和電壓工作點(diǎn),這使得它具備識別光伏系統(tǒng)性能下降的各種癥狀的獨(dú)特能力。
每個光伏模塊的數(shù)據(jù)表都會提供一個模型 I-V 曲線,它會展示在標(biāo)準(zhǔn)測試條件 (STC) 下,該模塊各種可能的工作或負(fù)載電流和電壓組合。當(dāng)實(shí)際測量的 I-V 曲線在高度、寬度或形態(tài)上與預(yù)測的 I-V 曲線(即基于模型 I-V 曲線預(yù)測,并根據(jù)實(shí)際輻照度和溫度條件調(diào)整后的曲線)存在顯著偏差時,這種偏差的性質(zhì)能夠?yàn)椴槊鳚撛诘男阅軉栴}提供線索。利用像 Fluke Solmetric PVA-1500 這樣的 I-V 曲線繪圖儀,我們能夠更有效地檢測光伏系統(tǒng)性能下降的癥狀。
Fluke Solmetric PVA 1500 V 光伏分析儀套件,配備 Fluke SolSensor
光伏系統(tǒng)故障排除的安全考慮事項(xiàng)
在使用電氣系統(tǒng)時,安全性是首要考慮的因素。為了保障安全,必須理解光伏系統(tǒng)的構(gòu)造和工作原理,使用符合額定值的測試設(shè)備,并嚴(yán)格遵守 NFPA 70E 等安全標(biāo)準(zhǔn)。相較于其他測試方法,使用像 Fluke Solmetric PVA-1500 這樣的 I-V 曲線繪圖儀能提高安全性,因?yàn)樗试S我們在進(jìn)行測試時,無需將電路置于逆變器負(fù)載下。
基本測試過程
在商業(yè)和公用事業(yè)規(guī)模的光伏系統(tǒng)中,通常會在電氣隔離的匯流箱中來測量 I-V 曲線的軌跡。舉例來說,如果區(qū)域級監(jiān)控器或無人機(jī)紅外測溫儀顯示匯流箱性能有所下降,I-V 曲線繪圖儀可以立即將其標(biāo)記出來以便開展檢查。在進(jìn)行隔離之后,先進(jìn)行目視檢查,然后繪制 I-V 曲線,就可以識別出性能下降的源電路。經(jīng)過校準(zhǔn)的性能測量包括在陣列的正面安裝輻照度傳感器,并在模塊的背面安裝溫度傳感器。每個光伏源電路都會進(jìn)行單獨(dú)的測試,整個流程僅需 10 到 15 秒,而所有的數(shù)據(jù)都會以電子方式保存。
標(biāo)準(zhǔn)的形態(tài)及性能
為了在現(xiàn)場識別性能問題,需要建立一個比較標(biāo)準(zhǔn)。在進(jìn)行故障排除時,您可以利用相鄰光伏源電路的測量值來進(jìn)行對比。不過,通常會使用模塊的銘牌數(shù)據(jù)作為性能比較的依據(jù),特別是當(dāng)您需要對性能進(jìn)行長期基準(zhǔn)測試時。
在執(zhí)行 I-V 曲線測試之前,您需要先確定要測試的模塊,以及要將多少個模塊串聯(lián)或并聯(lián)。根據(jù)這些數(shù)據(jù)以及其他設(shè)置輸入,軟件會計(jì)算在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下預(yù)期的性能特征,如 Isc、Imp、Voc、Vmp 和 Pmp。由于現(xiàn)場條件與工廠測試條件往往存在差異,I-V 曲線繪圖儀會采用數(shù)學(xué)模型來綜合考慮現(xiàn)場的實(shí)際輻照度和溫度條件,并生成被測光伏源電路或模塊的 I-V 預(yù)測曲線和的最大功率預(yù)測值。
當(dāng)光伏源電路或模塊處于正常工作狀態(tài)時,其 I-V 曲線會呈現(xiàn)出標(biāo)準(zhǔn)的形態(tài)。此外,曲線繪圖儀根據(jù) I-V 數(shù)據(jù)計(jì)算得出的最大輸出功率額定值將非常接近預(yù)測的最大功率值。在這種情況下,我們使用性能因子 (PF) 來量化實(shí)際測量的 I-V 曲線與預(yù)測曲線之間的一致程度。一致程度以百分比形式進(jìn)行報(bào)告,并通過測量和預(yù)測的最大功率值 (PMP) 進(jìn)行計(jì)算,具體公式為:PF =(實(shí)際測量的PMP ÷ 預(yù)測的 PMP)× 100。若曲線形態(tài)正常,且性能因子維持在 90% 至 100% 的范圍內(nèi),這表明光伏源電路或模塊處于正常工作狀態(tài),不存在嚴(yán)重遮擋或污染問題。
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